產(chǎn)品型號：S920

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：上海市

更新時間：2024-12-12

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產(chǎn)品簡介：

動態(tài)光納米粒度儀性能特點

1積極性、高效的光路系統(tǒng)：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路，充分滿足空間相干性的要求解決，極大地提高了散射光信號的信噪比性能。

2、高靈敏度光子探測器：采用計數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管不斷豐富，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比方案； 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進(jìn)行計數(shù)，瞬間捕捉光子脈沖的變化同時。

3實施體系、大動態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計光子相關(guān)器幅度，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾技術創新，實現(xiàn)了大的動態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性各有優勢。

4技術發展、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷技術(shù)，采用自適應(yīng)PID控制算法資料，使樣品池溫度控制精度達(dá)±0.1℃適應性。

5、數(shù)據(jù)篩選功能：引入分位數(shù)檢測異常值的方法表示，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)不久前，并剔除異常值，提高粒度測量結(jié)果的準(zhǔn)確度質生產力。

6機構、優(yōu)化的反演算法：采用擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數(shù)，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布提升行動，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%更適合。

zeta電位分析儀測量

Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大交流，膠體體系愈穩(wěn)定引人註目， 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。

原理

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動溝通協調，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率拓展。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動活動，與液體之間形成滑動面，滑動面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程還不大，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位好宣講。

zeta電位分析儀性能特點

1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路連日來，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾不斷進步，有效地提高了信噪比和抗干擾能力信息化技術。

2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜預(yù)分析，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍認為，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析開拓創新，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移。

3.基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值選擇適用，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式開展，進(jìn)而有效提高了zeta電位的計算精度。